Оборудование
Оптический поляризационный микроскоп
Двухлучевой спектрофотометр, управляемый с ПК, предназначен для измерения оптических характеристик материалов (кристаллов, пластин, тонких пленок), прозрачных в области длин 175 - 3300 нм.
ИК-спектрометр с Фурье преобразованием
Монохроматор
Интеграция АСМ и конфокальной микроскопии/ Рамановской спектроскопии.
Комплекс для изучения, измерения и обработки основных параметров фотовольтаических преобразователей.
|